Die Professur für Elektronik, die mit drei wissenschaftlichen sowie zwei technischen Mitarbeitern ausgestattet ist, beschäftigt sich mit den Forschungsschwerpunkten Charakterisierung, Modellierung und Simulation mikroelektronischer Bauelemente und Schaltungen. Darüber hinaus wird an der Professur an der Herstellung und Optimierung von Bauelementen auf Basis organischer Halbleiter gearbeitet.

Zur Charakterisierung mikroelektronischer Bauelemente steht ein moderner temperaturgeregelter Halbleitermessplatz für Wafer bis zu einem Durchmesser von 200mm zur Verfügung, mit dem sich sowohl die statischen als auch die dynamischen Eigenschaften von Halbleitern und Schaltungen bestimmen lassen.

Die entwickelten mathematischen Beschreibungen der Bauelemente lassen sich dann in leistungsfähige Schaltungssimulatoren wie z.B. PSpice implementieren, mit denen das elektrische Verhalten kompletter Schaltungen am Rechner simuliert werden kann.

Für eine detaillierte Analyse von Bauelementen steht an der Professur der Device-Simulator ATLAS zur Verfügung, mit dem Vorgänge im Halbleiterinneren veranschaulicht werden können, die einer direkten Messung nicht zugänglich sind.

Die Professur verfügt darüber hinaus über eine Glove-Box sowie über Beschichtungsanlagen mit denen Bauelemente auf der Basis organischer Halbleiter hergestellt werden können.

Des Weiteren steht ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Verfügung, mit dessen Hilfe Oberflächenmessungen im Nanometerbereich möglich sind.