{"id":242,"date":"2017-11-02T13:48:08","date_gmt":"2017-11-02T12:48:08","guid":{"rendered":"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/?page_id=242"},"modified":"2025-12-22T09:44:18","modified_gmt":"2025-12-22T08:44:18","slug":"statistische-verfahren-in-der-emv","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/statistische-verfahren-in-der-emv","title":{"rendered":"Statistische Verfahren in der EMV"},"content":{"rendered":"<p><strong>Statistische Neubewertung von EMV-Pr\u00fcfnormen<\/strong><\/p>\n<p>Die g\u00fcltigen und in diversen Normen festgelegten Pr\u00fcfverfahren f\u00fcr die EMV basieren auf Festlegungen, die zum gr\u00f6\u00dften Teil aus den 1960-er stammen und daher auf die Anwendung auf Analogger\u00e4te zugeschnitten sind. Die heute \u00fcblichen digitalen Elektronikger\u00e4te weisen aber im Vergleich zu Analogger\u00e4ten eine deutlich h\u00f6here Anzahl an m\u00f6glichen Betriebszust\u00e4nden auf. Daher ist eine fundamentale Neubewertung der EMV-Tests n\u00f6tig, an deren Ende statt eines deterministischen Aussage \u00fcber ein Ger\u00e4t eine statistische Aussage \u00fcber die EMV-Eigenschafte eines Pr\u00fcflings stehen wird.<\/p>\n<p><span style=\"text-decoration: underline\">Bereits erreichte Ziele:<\/span><\/p>\n<ul>\n<li>Berechnung der Wahrscheinlichkeit von falsch-positiven Tests gegen NEMP (zusammen mit der Professur f\u00fcr Rechnergest\u00fctzte Statistik der\u00a0<abbr title=\"Helmut Schmidt Universit\u00e4t\">HSU<\/abbr>, <abbr title=\"Professor\">Prof.<\/abbr> Knoth,\u00a0<abbr title=\"Fakult\u00e4t\">Fak.<\/abbr>\u00a0F\u00fcr Wirtschafts- und Sozialwissenschaften)<\/li>\n<li>Bewertung der Parametertoleranzen in den NEMP-Testnormen durch Simulationen unter PROTHEUS und MatLab (09\/2013)<\/li>\n<\/ul>\n<p><strong>Einflu\u00df von Alterungseffekten auf die EMV-Eigenschaften von Schaltungen<\/strong><\/p>\n<p>In den aktuellen EMV-Pr\u00fcfnormen wird f\u00fcr elektrische Ger\u00e4te i.d.R. der Nachweis gefordert, dass dies Umgebung nicht durch kabel- oder feldgef\u00fchrte St\u00f6rungen beeinflusst wird. Diese Tests werden am Prototyp oder einem Vorserienmodell durchgef\u00fchrt und ber\u00fccksichtigen nicht etwaige \u00c4nderungen an den Ger\u00e4ten, die durch Alterung der Ger\u00e4te im Betrieb (<abbr title=\"zum Beispiel\">z.B.<\/abbr>\u00a0durch vielfaches Schalten) oder durch Umwelteinfl\u00fcsse wie Feuchtigkeits- oder Temperatur\u00e4nderungen entstehen. Diese Effekte sind vor allem bei leistungselektronischen Komponenten zu erwarten und kritisch\u00a0<abbr title=\"zum Beispiel\">z.B.<\/abbr>\u00a0im Zusammenhang mit die Einf\u00fchrung von\u00a0smart grids\u00a0zu sehen, in denen internetgesteuerte Leistungsschalter eine weite Verbreitung finden werden.<\/p>\n<p>Im Zusammenarbeit mit der Professur f\u00fcr Leistungselektronik der\u00a0<abbr title=\"Helmut Schmidt Universit\u00e4t\">HSU<\/abbr>\u00a0(<abbr title=\"Professor\">Prof.<\/abbr> Hoffmann,\u00a0<abbr title=\"Fakult\u00e4t\">Fak.<\/abbr>\u00a0f. Elektrotechnik) und der Griffith School of Engineering (Brisbane, AUS &#8211; Kontakt: <abbr title=\"Professor\">Prof.<\/abbr> Junwei Lu) sollen die EMV-Eigenschaften verschiedener Ger\u00e4te gemessen werden, bevor diese einer k\u00fcnstlichen Alterung durch vielfaches Ein- und Ausschalten, Betrieb bei erh\u00f6hter Spannung\u00a0<abbr title=\"beziehungsweise\">bzw.<\/abbr>\u00a0Stromst\u00e4rke und durch Anwendung einer steuerbaren Klimakammer unterzogen werden. Erneute Messung und Vergleich mit den urspr\u00fcnglichen Werten liefert dann Ergebnisse f\u00fcr die Verschlechterung der EMV-Eigenschaften des Ger\u00e4tes, die zuk\u00fcnftig in die EMV-Pr\u00fcfnormen einflie\u00dfen m\u00fcssen. Gemessen werden die Netzr\u00fcckwirkungen des Ger\u00e4ts sowie das abgestrahlte Nahfeld mit Hilfe eines Nahfeldscanners<\/p>\n<p>\u00a0<\/p>\n<p>Kontakt : <a href=\"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/lars-ole-fichte\"><abbr title=\"Doktor\">Dr.<\/abbr>&#8211;<abbr title=\"Ingenieur\">Ing.<\/abbr> Lars Ole Fichte<\/a><\/p>\n\n\n<p><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Statistische Neubewertung von EMV-Pr\u00fcfnormen Die g\u00fcltigen und in diversen Normen festgelegten Pr\u00fcfverfahren f\u00fcr die EMV basieren auf Festlegungen, die zum gr\u00f6\u00dften Teil aus den 1960-er stammen und daher auf die [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":134,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"footnotes":""},"categories":[4],"tags":[],"class_list":["post-242","page","type-page","status-publish","hentry","category-forschung"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/242","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/wp-json\/wp\/v2\/users\/134"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=242"}],"version-history":[{"count":4,"href":"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/242\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1323,"href":"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/242\/revisions\/1323"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=242"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=242"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.hsu-hh.de\/tet\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=242"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}